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降采样|SIFT特征点|匹配分析
  • 论文名称:降采样|SIFT特征点|匹配分析
  • 作者: 赵彬
  • 录入时间:2012-8-11
  • 文件大小:283 K
  • 解压密码:www.gissky.net
论文摘要
  • 针对影像数据降采样预处理对SIFT特征匹配数量和精度的影响进行试验分析,并对在相同采样频率下不同插值方法导致特征匹配数量与精度的差异进行详述,提出在满足影像分辨率要求的前提下,使用三次卷积内插方法进行80%~90%的降采样预处理,可以获得最大的特征匹配数量且满足匹配精度,而所需要的时间开销则减少20%~30%,具有重要的应用价值。 更多还原
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